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                            磁粉探伤机无损检测技术经历的三个发展阶段

                            现代无损检测的定义是:在不损坏试件的前提下,以物理或化学方法为手段,借助先进的技术和设备器材,对试件的内部及表面的结构,性质,状态进行检查和测试的方法。
                            主要的检测方法有五种:超声波检测UT(Ultrasonic Testing)、射线检测RT(Radiographic Testing)、磁粉检测MT(Magnetic Particle Testing)、渗透检测PT(Penetrant Testing)和目视检查VT(Visual Testing)
                            无损检测技术经历了三个发展阶段,即无损探伤(Nondestructive inspection,NDI)、无损检测(Nondestructive testing,NDT)和无损评价(Nondestructive evaluation,NDE)。目前一般统称为无损检测(NDT),而不是特指上述的第二阶段。在这三个阶段中,各阶段之间也没有****的时间分界点,它们之间存在相互继承和发展,各自的主要特点如下。
                            1.无损探伤(NDI)
                            从国际上看,这一技术主要应用于20世纪五六十年代,作为无损检测的初级阶段,其特点是技术和任务都较为简单。在技术手段上可选择的并不丰富,主要采用超声、射线等技术;在任务上主要是检测试件是否存在缺陷或者异常,其基本任务是在不破坏产品的情况下发现零件或者构件中的缺陷,满足工程需要,其检测结论主要分为有缺陷和无缺陷两类。
                            2.无损检测(NDT)
                            随着科学技术的不断发展,特别是生产对无损检测技术的需求不断提升,仅仅检测出是否有缺陷显然不能满足人们的实际需求。在无损检测(NDT)这一发展阶段,不仅仅是探测出试件是否含有缺陷,还包括探测试件的一些其他信息,例如缺陷的结构、性质、位置等,并试图通过检测掌握更多的信息、对于国际上发达的工业国家,这一阶段大致开始于20世纪70年代末或者80年代初。
                            3.无损检测评价(NDE)

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